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fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗，并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量，

德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計

x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有先進的多毛細孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點的面積，又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。